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X-Strata920 X射線熒光測(cè)厚儀
主機(jī)內(nèi)部包含如下主要配置：
-X射線管和高壓發(fā)生器
-封氣正比探測(cè)器和前置放大器
-CCD觀瞄系統(tǒng)和Z軸程控激光對(duì)焦系統(tǒng)
-0.3mm直徑圓形準(zhǔn)直器，*小可測(cè)量點(diǎn)為直徑約0.5mm的圓面
-加深樣品倉(cāng)/臺(tái)，內(nèi)部尺寸W236*D430*H160mm，*大適宜測(cè)量的樣品尺寸為W118*D215*H150mm
-SmartLink儀器控制操作軟件
X-Strata920 設(shè)計(jì)為面向電子產(chǎn)品和金屬表面處理行業(yè)，測(cè)量單層和多鍍層（包括合金層）。我們的內(nèi)部應(yīng)用專家對(duì) X-Strata920 進(jìn)行了優(yōu)化，確保您獲得可靠、可重復(fù)結(jié)果滿足數(shù)百種應(yīng)用，包括 PCB 表面處理、連接器鍍層、耐腐蝕處理、裝飾表面處理、耐磨損處理、耐高溫處理等。
X-Strata920 **到毫英寸或微米，為您帶來(lái)所需的高精度可靠結(jié)果。
X-Strata920 X射線熒光測(cè)厚儀隨主機(jī)的標(biāo)準(zhǔn)配件：
-電腦一臺(tái)，包括Dell主機(jī)，鍵盤，鼠標(biāo)和Windows操作系統(tǒng)
-儀器開機(jī)鑰匙一個(gè)；
-操作說明書（電子版）；
-波譜校準(zhǔn)片一塊；
-出廠證書一套；
（儀器主要參數(shù)規(guī)格請(qǐng)參考報(bào)價(jià)附件）
備注：顯示器用戶自行購(gòu)置
標(biāo)準(zhǔn)片一套（共11片），
包含金，銀，銅，錫，鎳“純?cè)亍备饕黄?br>
包含銀薄膜標(biāo)準(zhǔn)片1片，鎳薄膜片2片；金薄膜標(biāo)準(zhǔn)片1片，錫薄膜片1片，銅薄膜標(biāo)準(zhǔn)片1片
X-Strata920 X射線熒光測(cè)厚儀
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序號(hào) |
項(xiàng)目 |
內(nèi)容 |
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1 |
測(cè)量方向 （射線照射方向） |
從上往下，即使樣品表面有一定的幅度或不平整等情況也可輕易對(duì)焦 |
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2 |
外形尺寸 |
寬x深x高[mm]： 約407 x 770 x 400 mm（不含電腦等） |
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3 |
井深式樣品臺(tái) |
“井深式”樣品倉(cāng)設(shè)計(jì)，可以測(cè)量很小到很大的廣泛尺寸的樣品/零件 ，可放置樣品*大高度為150mm 。樣品臺(tái)支架可放置在“深井”中的4個(gè)位置的卡槽上，使得不同樣品都可以方便地測(cè)量。 樣品臺(tái)支架放置在標(biāo)準(zhǔn)位置（*上層）時(shí)，就是“開槽式樣品倉(cāng)”，可以測(cè)量大型平板樣品，如尺寸大于儀器寬度的印制線路板或小型的連接器，接插件樣品。所有樣品可以很方便地放置并定位到待測(cè)點(diǎn)。 Z軸自動(dòng)控制（Z向行程：43mm） 樣品倉(cāng)內(nèi)部尺寸：236 x 430 x 160mm (寬x深x高) |
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4 |
X射線源 |
超薄Be窗微聚焦W陽(yáng)極靶射線管 產(chǎn)生高通量X射線，經(jīng)過準(zhǔn)直器，得到細(xì)束X射線。 這個(gè)“聚焦X射線束”可對(duì)小樣品或者樣品上小測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行高精度的分析。 |
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5 |
高壓發(fā)生器 |
50 kV, 1.0 mA (50 W) 高壓發(fā)生器，高壓多檔可調(diào) |
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6 |
二次濾光片 |
鈷二次濾光片，用于準(zhǔn)確校正銅鎳之間的相互干擾，合適鎳層的**測(cè)量。 |
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7 |
準(zhǔn)直器 |
0.3 mm ?圓形準(zhǔn)直器，*小測(cè)量點(diǎn)是直徑約0.5mm的圓形，適合大多數(shù)類型的樣品。 |
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8 |
X射線接收器 （探測(cè)器） |
高分辨率、大面積、封氙氣的正比例計(jì)數(shù)器（PC） 結(jié)合二次濾波器來(lái)*大化靈敏度，以獲得*佳元素檢測(cè) |
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9 |
數(shù)字脈沖處理器 |
4096 通道（CH）數(shù)字多道處理器 含死時(shí)間校正和脈沖累積消除功能的自動(dòng)信號(hào)處理 |
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10 |
視屏系統(tǒng) |
彩色CCD，30倍光學(xué)放大， 200%、300%和400%數(shù)字放大。樣品分析區(qū)域在用戶界面顯示，清晰、易用。 |
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11 |
Z軸自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng) |
鐳射用于Z軸自動(dòng)**定位X射線光管/檢測(cè)器與被測(cè)樣品到*佳測(cè)試距離。 “一鍵操作”將Z軸測(cè)試頭移動(dòng)到*佳位置，同時(shí)將樣品圖像定焦（顯示在屏幕上）。 自動(dòng)而簡(jiǎn)單的操作提高儀器測(cè)試的再現(xiàn)性，并將人為測(cè)量誤差降到*低。 注：*佳測(cè)試距離為12.7mm，由X射線測(cè)試頭自動(dòng)調(diào)節(jié)高度（Z軸）。 |
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12 |
電源 |
85~130 或 215~265 伏特，頻率范圍47Hz到63Hz |
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13 |
能耗 |
小于1000W |
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14 |
工作溫度 |
10°C至40°C |
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15 |
空氣相對(duì)濕度 |
相對(duì)濕度≤ 98 %, 無(wú)冷凝水 |
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16 |
計(jì)算機(jī) |
CPU：Intel Core 2 Duo E7500 2.93GHz 硬盤： 500Gb，內(nèi)存：2Gb，DVDRW 注：由于計(jì)算機(jī)系統(tǒng)更新快速，實(shí)際配置等同或優(yōu)于上述規(guī)格。 |
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17 |
操作系統(tǒng) |
MicrosoftTM Windows |
報(bào)價(jià)附件之儀器主要規(guī)格參數(shù) 二（對(duì)應(yīng)報(bào)價(jià)單號(hào)：）
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序號(hào) |
項(xiàng)目 |
內(nèi)容 |
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18 |
可測(cè)量的鍍層 元素范圍 |
元素周期表中22號(hào)鈦元素到92號(hào)鈾元素 |
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19 |
可測(cè)量的鍍層層數(shù) |
*多可同時(shí)測(cè)量4層（不含基材） |
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20 |
可測(cè)鍍層厚度范圍 |
通常約0.03微米到30微米，根據(jù)不同鍍層元素和鍍層結(jié)構(gòu)不同而不同。 |
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21 |
典型準(zhǔn)確性 |
**層（*表面層）：±0.025微米或±5%以較大者計(jì)，或更好； **次（次表面層）：±0.050微米或±10%以較大者計(jì)，或更好； 第三層 ： ±0.075微米或±15%以較大者計(jì)，或更好； （按操作規(guī)程，采用0.3mm準(zhǔn)直器，對(duì)隨儀器配置的標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行連續(xù)10次測(cè)量，測(cè)量平均值與標(biāo)準(zhǔn)片標(biāo)稱值之間的差異作為準(zhǔn)確性數(shù)據(jù)） |
*持續(xù)改進(jìn)是我們的宗旨，對(duì)上述參數(shù)，我們保留在不通知的情況下做調(diào)整的權(quán)力。